直流耐壓試驗(yàn)不可被交流耐壓試驗(yàn)代替

以電機(jī)為例：

對(duì)電機(jī)采用直流耐壓試驗(yàn)并測(cè)量泄漏電流，可以發(fā)現(xiàn)交流耐壓試驗(yàn)所不能發(fā)現(xiàn)的缺陷。二種試驗(yàn)各有檢查能力都是電機(jī)交接和預(yù)防性試驗(yàn)中必做項(xiàng)目，現(xiàn)將二者比較分析。

由于電機(jī)對(duì)地電容很大當(dāng)進(jìn)行交流耐壓試驗(yàn)時(shí)需要容量較大的試驗(yàn)設(shè)備。而直流耐壓時(shí)沒有電容電流，因而可以用小容量的設(shè)備，減少了試驗(yàn)設(shè)備體積和投資。

直流耐壓試驗(yàn)時(shí)，絕緣中不存在介質(zhì)損耗，不會(huì)使絕緣發(fā)熱；而交流耐壓試驗(yàn)時(shí)，會(huì)發(fā)生介質(zhì)損耗，致使絕緣發(fā)熱。

直流耐壓試驗(yàn)可以根據(jù)三相泄露電流與電壓的關(guān)系特性，可容易地發(fā)現(xiàn)絕緣內(nèi)部缺陷。這是因?yàn)楸辉囯姍C(jī)絕緣存在有局部缺陷或者絕緣普遍惡化的情況下，升高電壓時(shí)，泄露電流將按指

數(shù)曲線關(guān)系增長(zhǎng)，造成三相泄露電流不平衡，但對(duì)于良好的絕緣，則電流上升很小，而三相泄露電流是近似平衡的。

而在交流耐壓試驗(yàn)時(shí)，當(dāng)絕緣內(nèi)部存在缺陷且在一定交流試驗(yàn)電壓下尚不能使絕緣擊穿時(shí)三相充電電流差別不是很大，因此電機(jī)內(nèi)部缺陷無(wú)法發(fā)現(xiàn)。這是因?yàn)榻涣髂蛪涸囼?yàn)時(shí)的電容電流

比直流耐壓時(shí)的電導(dǎo)電流要大很多倍,由于缺陷部分而引起的有效電流的增加對(duì)總的電流來(lái)說(shuō)是很微小的,故不易從總電流的變化來(lái)發(fā)現(xiàn)絕緣缺陷。

直流耐壓試驗(yàn)容易發(fā)現(xiàn)電機(jī)端部絕緣的缺陷，而交流耐壓試驗(yàn)容易發(fā)現(xiàn)槽部和槽口的絕緣缺陷這是因?yàn)樵诮涣髂蛪涸囼?yàn)時(shí),端部導(dǎo)線與絕緣表之間存在分布電容，端部導(dǎo)線的電容電流通過(guò)

分布電容沿著絕緣表面流向接地的定子鐵芯。這樣在絕緣表面產(chǎn)生了顯著的電壓降離鐵芯愈遠(yuǎn)的端部導(dǎo)線與絕緣表面之間的電位差就愈小，因此，不能有效的發(fā)現(xiàn)端部的絕緣缺陷。

而在直流耐壓時(shí)，不存在電容電流，只有很小的電導(dǎo)電流，故沿著絕緣表面也就沒有顯著的電壓降，且電壓降的分布也比較均勻，因此，不論離鐵芯多遠(yuǎn)，端部導(dǎo)線與絕緣表面之間的電

位差都是相當(dāng)高的,這樣就能比較容易發(fā)現(xiàn)端部絕緣的局部缺陷。這些解釋可以從表一所列的試驗(yàn)統(tǒng)計(jì)資料得到驗(yàn)證。